失效分析技术——显微成像SEM/CT专题培训

时间：2019-10-31 11:14:00 来源：上海机器人产业技术研究院作者：小R

作为上海市机器人功能性与研发转化平台的重点实验室，机器人失效分析实验室本着为广大机器人企业服务的宗旨，提供电子元器件、PCB板、材料等方面的失效分析服务。

失效分析是使用电测、物理、化学等手段分析失效样品，确定失效模式，找出失效机理，避免失效重现的过程。机器人失效分析技术包括电性能检测、无损分析、形貌成像、成分分析、切片分析等。

本次培训我们邀请了卡尔蔡司两位资深专家，将重点介绍最常规且重要的分析手段：SEM微观形貌检查、CT无损检测，针对机器人、电子元器件、材料等的失效分析进行一次系统的培训。

▍时间地点

时间：2019年11月12日8:30-11:30

地点：上海电器科学研究院1号楼4楼第一会议室

▍组织单位

上海机器人产业技术研究院有限公司

▍培训日程安排

▍报名方式

联系人：卢工

电话：021-31592018-837

邮箱：ludy@seari.com.cn

▍专家介绍

曹春杰

2013年加入蔡司中国显微镜部，专职从事X射线显微镜成像技术工作，具有2万余小时的样品X射线扫描成像经验。曾为国内外超过200所大学、研究机构和企业提供成像解决方案和技术演示，完成国内外近70台设备的技术支持工作，在工业品检测领域具有丰富的理论和实战操作经验。

精通X射线显微镜在生命科学、材料科学、电子半导体等不同研究领域的应用。

蔡慧

于2004年在新加坡南洋理工大学完成工程学士学位。毕业后，他开始在STATS ChipPAC担任测试产品工程师。从2007年到2010年，他加入南洋理工大学担任项目工程师。在此期间，他的主要研究项目是微电子故障分析。现任卡尔蔡司（上海）管理有限公司显微镜客户中心亚太区总监。

专注于使用SEM，FIB和TEM进行材料表征。

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