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失效分析技术系列——显微成像SEM/ CT专题培训完美落幕
时间：2019-11-12 11:04:00
来源：上海机器人产业技术研究院
作者：小R
上海机器人产业技术研究院 机器人失效分析实验室，于11月12日顺利开展了失效分析技术——显微成像SEM/ CT专题培训。本次培训研讨会邀请了两位卡尔蔡司资深专家:蔡慧、曹春杰，分别就FIB +SEM微观检查、CT无损检测分析技术，从设备原理、实际应用等方面作了详细的讲解和案例分享。本次研讨会也吸引了纳恩博、新时达、科沃斯等多家机器人企业相关专家，并对关心的技术与问题做了充分沟通交流。
机器人失效分析实验室关键设备
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